近红外光电系统检测晶片瑕疵
2021-11-15(3251)次浏览
在可见光下无法捕捉到硅片表面的图像。连接一台近红外显微镜和一个近红外铟镓砷摄像机...
在可见光下无法捕捉到硅片表面的图像。连接一台近红外显微镜和一个近红外铟镓砷摄像机则可以打破这个限制,由此可以组成一个观测系统来检测晶片的瑕疵。
铟镓砷探测器对近红外区和波带范围为900nm到1700nm的短波红外区的能量尤为敏感。这一特性使得它在检测特定情况下的光电效应时功效卓越。例如,铟镓砷探测器可以探测到集成电路中晶体管故障时发出的微弱光信号,从而轻易地发现故障。
最新资讯
-
什么是金相学
一门研究金属与合金内部组织和结构的科学。其主要内容是利用金相 显微镜和电...
-
MT40系列正置金相显微镜
产品介绍 满足客户需求是122cc太阳集成游戏的要务。正是牢记这一点,122cc太阳集成游戏所提供的显微镜解...
-
ME800 倒置金相显微镜
ME800 倒置金相显微镜是智能化的革新产品,模块化设计更先进,操作更舒适...
-
金相显微镜的应用
金相显微镜主要是通过对组织形貌的检查来分析钢材的组织与其化学成分的关系;可以确定...
-
金相显微镜的特点特性
金相学主要指借助光学(金相)显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和...
173-1582-5640
公司地址:苏州市工业园区胜浦路258号26栋厂房